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上海艾測電子科技有限公司
精確的光路系統,可靠的定位結構,有效的色度補償,直讀濁度值
可選光譜測量單元,多種測量模式,選配流動取樣裝置,可實現連續測量,可選外置或內置打印
機。(訂貨時說明)
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: ,-607, ,
傳真:-602,-602
:李圓圓
:
地址:上海市嘉定區南翔金通路1736弄1號312
: 201800
:shine@ai-test.com
: http://www.ai-test.com/
型號Model | |
| |
| ||
測定原理Minimum Principle | 90°散射光 | |||||
zui小示值Minimum readout(NTU) | | 0.01 | | 0.01 | ||
測量范圍Measuring range(NTU) | 0~10、0~100、0~200、0~500、0~2000 | 0~10、0~100、0~200、0~500、0~4000 | ||||
示值誤差Basic error F.S | ±2%F.S、±3%F.S、±5%F.S | |||||
重復性Repeatability | ≤1% | |||||
零點漂移Zero draft(NTU) | 0.02 | |||||
特點 Characteristics | 微電腦配置、具有平均測量模式、年月日時間顯示、設有數據儲存和查詢功能、量程自動切換、自動調零和1~5點自動校準、配有RS232數據通訊接口、注:型號后帶“P”表示配有內置打印機 |
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